교정절차
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교정단가조회
교정단가는 시점, 교정분야, 모델에 따라 다소 차이가 있을 수 있으니 자세한 사항은 문의하시기 바랍니다. (표준소급료(10%) 및 부가세(10%) 별도)
전체 26,629 건
번호
분야
계측기명
제조사
모델명
단가(원)
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17,289선형치수높이 측정기TESAmicro-hite 350133,900
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17,288선형치수높이 측정기TESAmicro-hite 600214,240
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17,287선형치수높이 측정기TESATESA-HITE 700241,020
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17,286선형치수높이 측정기TRIMOS300 (0.001) mm133,900
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17,285선형치수높이 측정기TRIMOS600 (0.001) mm133,900
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17,284선형치수높이 측정기TRIMOSMT600MO133,900
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17,283선형치수높이 측정기TRIMOSVT-600MA214,240
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17,282선형치수두께 측정용 기준 시편CEM48 μm, 98 μm21,600
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17,281선형치수두께 측정용 기준 시편CEM48 μm, 99 μm21,600
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17,280선형치수두께 측정용 기준 시편CEM49 μm , 100 μm21,600
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17,279선형치수두께 측정용 기준 시편CEM50 μm, 99 μm21,600
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17,278선형치수두께 측정용 기준 시편CEM51 μm, 98 μm21,600
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17,277선형치수두께 측정용 기준 시편CEM52 μm , 100 μm21,600
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17,276선형치수두께 측정용 기준 시편DEFELSKO(12.6 - 507) μm64,800
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17,275선형치수두께 측정용 기준 시편ELCOMETER126.8 μm10,800
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17,274선형치수두께 측정용 기준 시편ELCOMETER23.4 μm10,800
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17,273선형치수두께 측정용 기준 시편ELCOMETER246.7 μm10,800
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17,272선형치수두께 측정용 기준 시편ELCOMETER50.2 μm10,800
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17,271선형치수두께 측정용 기준 시편ELCOMETER504 μm10,800
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17,270선형치수두께 측정용 기준 시편ELEKTROPHYSIK11.75 μm, 50.2 μm, 101.1 μm32,400